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 Self-test fail 
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Beitrag Self-test fail
Warum kann die HDD nicht geprüft werden?

Code:
SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Extended offline    Completed: read failure       90%      2436         253026635
# 2  Extended offline    Completed: read failure       90%      2436         253026635
# 3  Extended offline    Completed: read failure       90%      2436         253026635
# 4  Extended offline    Completed: read failure       90%      2436         253026635


So 21. Sep 2014, 00:29
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Beitrag Re: Self-test fail
Weil sie defekt ist und Lesefehler meldet.


So 21. Sep 2014, 00:44
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Beitrag Re: Self-test fail
oxygen8 hat geschrieben:
Weil sie defekt ist und Lesefehler meldet.


Test wird aber danach abgebrochen
kann sie ganz normal beschreiben


So 21. Sep 2014, 00:54
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Beitrag Re: Self-test fail
Der Test bricht immer beim ersten Fehler ab.
Eine defekte Platte wird nicht später wieder i.O.

Lösche alle Partitionen.
Überschreibe die leere Platte mit dd
dd if=/dev/zero of=/dev/???

Solltest du danch keine schwebenden Sektoren mehr haben, so kannst du die Platte noch zu Backupzwecken nutzen.


So 21. Sep 2014, 01:05
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MrYoshii
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Beitrag Re: Self-test fail
oxygen8 hat geschrieben:
Der Test bricht immer beim ersten Fehler ab.
Eine defekte Platte wird nicht später wieder i.O.

Lösche alle Partitionen.
Überschreibe die leere Platte mit dd
dd if=/dev/zero of=/dev/???

Solltest du danch keine schwebenden Sektoren mehr haben, so kannst du die Platte noch zu Backupzwecken nutzen.

Wie kann ich den aktuellen status anzeigen lassen?


So 21. Sep 2014, 13:43
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Beitrag Re: Self-test fail
Current_Pending_Sector

siehe

http://forum.nas-hilfe.de/festplatten-und-ssd-laufwerke/pruefung-einer-festplatte-unter-linux-t1291.html


So 21. Sep 2014, 13:48
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Beitrag Re: Self-test fail


ok und wo sehe ich wie lange
Code:
dd if=/dev/zero of=/dev/???
noch braucht?


So 21. Sep 2014, 16:14
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Beitrag Re: Self-test fail
Es gibt keine Ausgabe.
Rechne pro 1TB mit 10 Stunden


So 21. Sep 2014, 18:33
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Beitrag Re: Self-test fail
oxygen8 hat geschrieben:
Es gibt keine Ausgabe.
Rechne pro 1TB mit 10 Stunden


Sieht wohl schon sehr schlecht aus ^^
Code:
root@Backup_Nas:~# smartctl -d marvell /dev/sdb --all
smartctl version 5.37 [arm-none-linux-gnueabi] Copyright (C) 2002-6 Bruce Allen
Home page is http://smartmontools.sourceforge.net/

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     ST9250315AS
Serial Number:    6VC3D2L7
Firmware Version: 0001SDM1
User Capacity:    250,059,350,016 bytes
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   8
ATA Standard is:  Not recognized. Minor revision code: 0x29
Local Time is:    Mon Sep 22 14:47:59 2014 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x82) Offline data collection activity
                                        was completed without error.
                                        Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                 (   0) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x7b) SMART execute Offline immediate.
                                        Auto Offline data collection on/off support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        Conveyance Self-test supported.
                                        Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                                        power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  68) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.

SMART Attributes Data Structure revision number: 10
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x000f   110   076   006    Pre-fail  Always       -       224548313
  3 Spin_Up_Time            0x0003   099   099   000    Pre-fail  Always       -       0
  4 Start_Stop_Count        0x0032   097   097   020    Old_age   Always       -       3167
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   089   089   036    Pre-fail  Always       -       227
  7 Seek_Error_Rate         0x000f   076   060   030    Pre-fail  Always       -       4337201558
  9 Power_On_Hours          0x0032   098   098   000    Old_age   Always       -       2469
10 Spin_Retry_Count        0x0013   100   100   097    Pre-fail  Always       -       0
12 Power_Cycle_Count       0x0032   099   037   020    Old_age   Always       -       1743
184 Unknown_Attribute       0x0032   100   100   099    Old_age   Always       -       0
187 Unknown_Attribute       0x0032   001   001   000    Old_age   Always       -       22997
188 Unknown_Attribute       0x0032   100   099   000    Old_age   Always       -       486
189 Unknown_Attribute       0x003a   100   100   000    Old_age   Always       -       0
190 Temperature_Celsius     0x0022   069   051   045    Old_age   Always       -       521535519
191 G-Sense_Error_Rate      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       725
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       40
193 Load_Cycle_Count        0x0032   086   086   000    Old_age   Always       -       29539
194 Temperature_Celsius     0x0022   031   049   000    Old_age   Always       -       31 (Lifetime Min/Max 0/10)
195 Hardware_ECC_Recovered  0x001a   043   040   000    Old_age   Always       -       224548313
197 Current_Pending_Sector  0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0010   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x003e   200   200   000    Old_age   Always       -       0
254 Unknown_Attribute       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0

SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 23546 (device log contains only the most recent five errors)
        CR = Command Register [HEX]
        FR = Features Register [HEX]
        SC = Sector Count Register [HEX]
        SN = Sector Number Register [HEX]
        CL = Cylinder Low Register [HEX]
        CH = Cylinder High Register [HEX]
        DH = Device/Head Register [HEX]
        DC = Device Command Register [HEX]
        ER = Error register [HEX]
        ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 23546 occurred at disk power-on lifetime: 2454 hours (102 days + 6 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 00 05 cd b7 0d  Error: UNC at LBA = 0x0db7cd05 = 230149381

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:34.016  READ DMA EXT
  35 00 00 a0 a9 b7 4d 00      03:43:34.015  WRITE DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:31.694  READ DMA EXT
  35 00 00 a0 a7 b7 4d 00      03:43:31.692  WRITE DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:29.306  READ DMA EXT

Error 23545 occurred at disk power-on lifetime: 2454 hours (102 days + 6 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 00 05 cd b7 0d  Error: UNC at LBA = 0x0db7cd05 = 230149381

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:31.694  READ DMA EXT
  35 00 00 a0 a7 b7 4d 00      03:43:31.692  WRITE DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:29.306  READ DMA EXT
  35 00 00 a0 a5 b7 4d 00      03:43:29.304  WRITE DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:26.983  READ DMA EXT

Error 23544 occurred at disk power-on lifetime: 2454 hours (102 days + 6 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 00 05 cd b7 0d  Error: UNC at LBA = 0x0db7cd05 = 230149381

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:29.306  READ DMA EXT
  35 00 00 a0 a5 b7 4d 00      03:43:29.304  WRITE DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:26.983  READ DMA EXT
  35 00 00 a0 a3 b7 4d 00      03:43:26.981  WRITE DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:24.645  READ DMA EXT

Error 23543 occurred at disk power-on lifetime: 2454 hours (102 days + 6 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 00 05 cd b7 0d  Error: UNC at LBA = 0x0db7cd05 = 230149381

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:26.983  READ DMA EXT
  35 00 00 a0 a3 b7 4d 00      03:43:26.981  WRITE DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:24.645  READ DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:22.236  READ DMA EXT
  25 00 08 f8 cc b7 4d 00      03:43:22.236  READ DMA EXT

Error 23542 occurred at disk power-on lifetime: 2454 hours (102 days + 6 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 00 05 cd b7 0d  Error: UNC at LBA = 0x0db7cd05 = 230149381

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:24.645  READ DMA EXT
  25 00 08 00 cd b7 4d 00      03:43:22.236  READ DMA EXT
  25 00 08 f8 cc b7 4d 00      03:43:22.236  READ DMA EXT
  25 00 08 f0 cc b7 4d 00      03:43:22.235  READ DMA EXT
  25 00 08 e8 cc b7 4d 00      03:43:22.234  READ DMA EXT

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Extended offline    Completed: read failure       90%      2436         253026635
# 2  Extended offline    Completed: read failure       90%      2436         253026635
# 3  Extended offline    Completed: read failure       90%      2436         253026635
# 4  Extended offline    Completed: read failure       90%      2436         253026635

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.


Mo 22. Sep 2014, 14:49
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Beitrag Re: Self-test fail
Zitat:
197 Current_Pending_Sector 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0010 100 100 000 Old_age Offline - 0


Alle defekten Sektoren wurden ersetzt.

Lasse nun den langen Selbsttest laufen und er sollte fehlerfrei sein.


Mo 22. Sep 2014, 17:05
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